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圓晶片和晶錠單點壽命檢測儀

更新時間：2020-05-12

Freiberg Instruments光伏測量儀器MDPspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀MDPspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。低成本桌面式壽命測量系統，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作Z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。

MDPspot圓晶片和晶錠單點壽命檢測儀的詳細資料

品牌	其他品牌	價格區間	5萬-10萬
組成要素	半導體激光器產品及設備	產地類別	進口
應用領域	化工,地礦,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬

低成本的臺式壽命測量系統，可在不同的制備階段表征各種不同的硅樣品，沒有內置的自動化。可選配手動z軸，用于厚度在156毫米以下的晶錠。結果可視化的標準軟件。
MDPspot包括一個額外的電阻率測量選項。電阻率測量僅適用于硅，可用于沒有高度調整可能性的晶圓片，也可用于晶錠。須預定義這兩個選項之一。

特性

· 無接觸破壞的電子半導體特性
μ-PCD測量選項
外延片不可見的缺陷和檢測的靈敏度的可視化
集成多達四個激光器適用于一個廣泛的注射水平
獲取單一瞬態的原始數據以及用于特殊評估目的的圖

優勢

· 用于不同制備階段，從成體到終器件，多晶硅或單晶硅單點測量載流子壽命的臺式裝置。

· 體積小，成本低，使用方便。擁有一個基本的軟件，結果可視化。
適用于晶圓片到晶錠，易于高度調整。

技術參數

樣品	不同的處理步驟，如鈍化或擴散后的單晶或多晶硅晶圓、晶錠、電池、晶圓
樣品尺寸	50 x 50 mm2 到12“ 或210 x 210 mm2
電阻率	0.2 - 103 Ohm cm
材質	硅晶圓，晶錠，部分或全部加工晶圓，復合半導體和更多其它類型
檢測性能	載流子壽命
尺寸	360 x 360 x 520 mm，質量：16 kg
電源	110/220 V, 50/60 Hz, 3 A